外觀檢測設(shè)備檢測金屬片外觀不良方案
作者 : 思普泰克智能制造發(fā)布時間 : 2020-01-13 瀏覽 : 179 次
注明：外觀檢測設(shè)備，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于150件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
產(chǎn)品的外觀檢測
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 | 備注 |
| 1 | 壓傷 | 正光 | 可檢 |
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| 2 | 凹陷 | 正光 | 可檢 | |
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| 3 |
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| 4 | 臟污 |
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不可檢 | 和樣件本身色差相近 |
| 5 | 印字不良 |
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不可檢 | 樣件沒辦法區(qū)分正反面，字符可能存在四個位置 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于150件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300非標(biāo)定制機(jī) 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 | 備注 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 | 數(shù)據(jù)可上傳 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
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| 4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 4套 |
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| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)伺服模組 | SIPOTEK定制 | 4套 |
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| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 4套 |
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| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 4套 |
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| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
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| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
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| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 11 | PLC運動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
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設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 壓傷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
三、樣件測試圖片:
頂部正光檢測原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 壓傷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 凹陷 分析結(jié)果：可檢
四、系統(tǒng)安裝要求:
設(shè)備放置的檢測空間: 在流水線上并入安裝思普泰克視覺檢測系統(tǒng)，需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。
環(huán)境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)自動化檢測設(shè)備，視覺檢測設(shè)備，光學(xué)篩選機(jī)的生產(chǎn)廠家，本公司提供不同行業(yè)的自動化檢測設(shè)備的非標(biāo)定制生產(chǎn)···
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