視覺檢測自動化設(shè)備檢測蓋板外觀缺陷方案
作者 : 思普泰克智能制造發(fā)布時間 : 2022-10-17 瀏覽 : 294 次
注明：視覺檢測自動化設(shè)備檢測蓋板外觀缺陷，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
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一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
產(chǎn)品的外觀檢測
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：蓋板開裂
底部正光檢測良品原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
| 序號 |
|
檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 蓋板鉚釘打傷 | 正光源檢測 | 可檢 |
| 2 | 蓋板方圓腳 | 正光源檢測 | 可檢 |
| 3 | 蓋板焊針發(fā)黃 | 正光源檢測 | 可檢 |
| 4 | 蓋板開裂 | 正光源檢測 | 可檢 |
| 5 | 蓋板缺焊針 | 正光源檢測 | 可檢 |
注明：以上檢測項(xiàng)目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
頂部正光檢測良品分析圖：OK
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 2套 |
| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 2套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 2套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 2套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運(yùn)動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
三、樣件測試圖片:
頂部正光檢測良品原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：無墊片
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：華司缺口
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：蓋板開裂
底部正光檢測良品原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：蓋板多孔
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：針腳發(fā)黃
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：蓋板缺口
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：方圓腳
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：鉚釘壓傷
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：焊腳反向
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：缺焊腳
是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)自動化檢測設(shè)備，視覺檢測設(shè)備，光學(xué)篩選機(jī)的生產(chǎn)廠家，本公司提供不同行業(yè)的自動化檢測設(shè)備的非標(biāo)定制生產(chǎn)···
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